致力于成為優秀的解決方案供應商！
2024-11-09 2024-11-06 2025-01-16 2024-11-04 2025-03-28 
襯底電阻率方阻測試儀：襯底，或稱基片（substrate），是指在半導體器件制造過程中用來支持其他材料或結構的底層材料。襯底的物理性質包括其晶體結構、機械強度、熱導率、膨脹系數等，而化學性質則涵蓋其純度、表面化學穩定性、化學反應活性等。常見的襯底材料如硅（Si）、砷化鎵（GaAs）、碳化硅（SiC）等，因其物理與化學性質而被廣泛應用。
產品型號：廠商性質：生產廠家更新時間：2025-06-26訪 問 量：904
立即咨詢
聯系電話：
襯底電阻率方阻測試儀相關介紹：
襯底的定義
1.襯底的物理與化學性質
襯底，或稱基片（substrate），是指在半導體器件制造過程中用來支持其他材料或結構的底層材料。襯底的物理性質包括其晶體結構、機械強度、熱導率、膨脹系數等，而化學性質則涵蓋其純度、表面化學穩定性、化學反應活性等。常見的襯底材料如硅（Si）、砷化鎵（GaAs）、碳化硅（SiC）等，因其物理與化學性質而被廣泛應用。
2.襯底的作用與功能
在半導體制造中，襯底起到至關重要的支撐作用。首先，襯底為后續的材料沉積和器件制作提供了一個平整且穩定的基礎，其次，襯底材料的選擇直接影響器件的性能和制造成本。此外，襯底還需具備良好的機械強度和熱導率，以支持器件在高功率和高溫條件下穩定運行。
襯底電阻率方阻測試儀更多信息請聯系我們。
您的位置：
